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研究会・全国大会等
[1] 中山 直輝, 吉田 則裕, 藤原 賢二, 飯田 元, "開発履歴分析を用いたコードクローン内外における欠陥発生率の調査," 情報処理学会研究報告, volume 2014-SE-186, number 2, pages 1-8 2014年11月.