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西田皓司, 伏田享平, 川口真司, 飯田元, "コードクローンに対する変更の一貫性と 欠陥発生との関連性に関する分析," 電子情報通信学会技術研究報告, 109(456), pp. 67-72 2010年3月.
ID 86
分類 研究会・全国大会等
タグ
表題 (title) コードクローンに対する変更の一貫性と 欠陥発生との関連性に関する分析
表題 (英文)
著者名 (author) 西田皓司,伏田享平,川口真司,飯田元
英文著者名 (author) Koji Nishida,Kyohei Fushida,Shinji Kawaguchi,Hajimu Iida
編者名 (editor)
編者名 (英文)
キー (key) Koji Nishida,Kyohei Fushida,Shinji Kawaguchi,Hajimu Iida
書籍・会議録表題 (booktitle) 電子情報通信学会技術研究報告
書籍・会議録表題(英文)
巻数 (volume) 109
号数 (number) 456
ページ範囲 (pages) 67-72
組織名 (organization)
出版元 (publisher)
出版元 (英文)
出版社住所 (address)
刊行月 (month) 3
出版年 (year) 2010
採択率 (acceptance)
URL
付加情報 (note)
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
論文電子ファイル 17.pdf (application/pdf) [一般閲覧可]
BiBTeXエントリ
@inproceedings{id86,
         title = {コードクローンに対する変更の一貫性と 欠陥発生との関連性に関する分析},
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     booktitle = {電子情報通信学会技術研究報告},
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