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亀井靖高, 左藤裕紀, 門田暁人, 川口真司, 上野秀剛, 名倉正剛, 松本健一, "クローンメトリクスを用いたfault-prone モジュール判別の追実験," 電子情報通信学会論文誌 D, pp. 544-547 2010年4月.
ID 84
分類 論文誌
タグ
表題 (title) クローンメトリクスを用いたfault-prone モジュール判別の追実験
表題 (英文)
著者名 (author) 亀井 靖高,左藤 裕紀,門田 暁人,川口 真司,上野 秀剛,名倉 正剛,松本 健一
英文著者名 (author) Yasutaka Kamei,Hiroki Sato,Akito Monden,Shinji Kawaguchi,Hidetake Uwano,Masatake Nagura,Ken-ichi Matsumoto
キー (key)
定期刊行物名 (journal) 電子情報通信学会論文誌 D
定期刊行物名 (英文)
巻数 (volume)
号数 (number)
ページ範囲 (pages) 544-547
刊行月 (month) 4
出版年 (year) 2010
Impact Factor (JCR)
URL
付加情報 (note)
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
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BiBTeXエントリ
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