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中山, 吉田, 藤原, 飯田, 高田, 高田, "コードクローンとの位置関係に基づく欠陥混入傾向の調査," ソフトウェアエンジニアリングシンポジウム2015論文集, pp. 28-37 2015年9月.
ID 268
分類 国内会議(査読付き)
タグ
表題 (title) コードクローンとの位置関係に基づく欠陥混入傾向の調査
表題 (英文)
著者名 (author) 中山 直輝,吉田 則裕,藤原 賢二,飯田 元,高田 光隆,高田 広章
英文著者名 (author) Naoki Nakayama,Norihiro Yoshida,Kenji Fujiwara,Hajimu Iida,Mitsutaka Takada,Hiroaki Takada
編者名 (editor)
編者名 (英文)
キー (key) Naoki Nakayama,Norihiro Yoshida,Kenji Fujiwara,Hajimu Iida,Mitsutaka Takada,Hiroaki Takada
書籍・会議録表題 (booktitle) ソフトウェアエンジニアリングシンポジウム2015論文集
書籍・会議録表題(英文)
巻数 (volume)
号数 (number)
ページ範囲 (pages) 28-37
組織名 (organization)
出版元 (publisher)
出版元 (英文)
出版社住所 (address)
刊行月 (month) 9
出版年 (year) 2015
採択率 (acceptance)
URL
付加情報 (note)
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
論文電子ファイル IPSJ-SES2015011.pdf (application/pdf) [一般閲覧可]
BiBTeXエントリ
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         title = {コードクローンとの位置関係に基づく欠陥混入傾向の調査},
        author = {中山 直輝 and 吉田 則裕 and 藤原 賢二 and 飯田 元 and 高田 光隆 and 高田 広章},
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         pages = {28-37},
         month = {9},
          year = {2015},
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