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中山, 吉田, 藤原, 飯田, "開発履歴分析を用いたコードクローン内外における欠陥発生率の調査," 情報処理学会研究報告, 2014-SE-186(2), pp. 1-8 2014年11月.
ID 245
分類 研究会・全国大会等
タグ clones code defect fragments investigation mining rate repository surrounding technique
表題 (title) 開発履歴分析を用いたコードクローン内外における欠陥発生率の調査
表題 (英文) Investigation of Defect Rate within Code Clones and the Surrounding Code Fragments Using Repository Mining Technique
著者名 (author) 中山 直輝,吉田 則裕,藤原 賢二,飯田 元
英文著者名 (author) Naoki Nakayama,Norihiro Yoshida,Kenji Fujiwara,Hajimu Iida
編者名 (editor)
編者名 (英文)
キー (key) Naoki Nakayama,Norihiro Yoshida,Kenji Fujiwara,Hajimu Iida
書籍・会議録表題 (booktitle) 情報処理学会研究報告
書籍・会議録表題(英文)
巻数 (volume) 2014-SE-186
号数 (number) 2
ページ範囲 (pages) 1-8
組織名 (organization)
出版元 (publisher)
出版元 (英文)
出版社住所 (address)
刊行月 (month) 11
出版年 (year) 2014
採択率 (acceptance)
URL
付加情報 (note)
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
論文電子ファイル IPSJ-SE14186002.pdf (application/pdf) [一般閲覧可]
BiBTeXエントリ
@inproceedings{id245,
         title = {開発履歴分析を用いたコードクローン内外における欠陥発生率の調査},
        author = {中山 直輝 and 吉田 則裕 and 藤原 賢二 and 飯田 元},
     booktitle = {情報処理学会研究報告},
        volume = {2014-SE-186},
        number = {2},
         pages = {1-8},
         month = {11},
          year = {2014},
}