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伏田, 名倉, 川口, 飯田, "適用履歴に着目したデザインパターンメトリクスの提案," ソフトウェアエンジニアリングシンポジウム2008 ワークショップ論文集, pp. 29-30 2008年9月.
ID 16
分類 国内会議(査読付き)
タグ
表題 (title) 適用履歴に着目したデザインパターンメトリクスの提案
表題 (英文)
著者名 (author) 伏田 享平,名倉 正剛,川口 真司,飯田 元
英文著者名 (author) Kyohei Fushida, Masataka Nagura, Shinji Kawaguchi, Hajimu Iida
編者名 (editor)
編者名 (英文)
キー (key)
書籍・会議録表題 (booktitle) ソフトウェアエンジニアリングシンポジウム2008 ワークショップ論文集
書籍・会議録表題(英文)
巻数 (volume)
号数 (number)
ページ範囲 (pages) 29-30
組織名 (organization)
出版元 (publisher)
出版元 (英文)
出版社住所 (address)
刊行月 (month) 9
出版年 (year) 2008
採択率 (acceptance)
URL
付加情報 (note)
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)

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BiBTeXエントリ
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         title = {適用履歴に着目したデザインパターンメトリクスの提案},
        author = {伏田 享平 and 名倉 正剛 and 川口 真司 and 飯田 元},
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