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論文誌
[1] 亀井靖高, 左藤裕紀, 門田暁人, 川口真司, 上野秀剛, 名倉正剛, 松本健一, "クローンメトリクスを用いたfault-prone モジュール判別の追実験," 電子情報通信学会論文誌 D, pages 544-547 2010年4月.
国内会議(査読付き)
[1] 片山 真一, 名倉 正剛, 飯田 元, "ソフトウェアタグ運用基盤の構築を支援するためのプロセスシミュレータの提案," ウインターワークショップ2009・イン・宮崎論文集, pages 81-82 2009年1月.