Search: 簡易 | 詳細 || Language: 英語 | 日本語 || Login: ログイン | Help: ヘルプ |

5 件の該当がありました. : このページのURL : HTML


論文誌
[1] 中山 直輝, 吉田 則裕, 藤原 賢二, 飯田 元, 高田 光隆, 高田 広章, "コードクローンとの位置関係に基づく欠陥発生傾向の調査," 情報処理学会論文誌, volume 57, number 2, pages 681-693 2016年2月.
国内会議(査読付き)
[1] 中山 直輝, 吉田 則裕, 藤原 賢二, 飯田 元, 高田 光隆, 高田 広章, "コードクローンとの位置関係に基づく欠陥混入傾向の調査," ソフトウェアエンジニアリングシンポジウム2015論文集, pages 28-37 2015年9月.
研究会・全国大会等
[1] 中山 直輝, 吉田 則裕, 藤原 賢二, 飯田 元, "開発履歴分析を用いたコードクローン内外における欠陥発生率の調査," 情報処理学会研究報告, volume 2014-SE-186, number 2, pages 1-8 2014年11月.
学位論文
[1] 中山 直輝, "コードクローンとの位置関係がコード片の欠陥発生傾向に与える影響の調査," 修士学位論文, 奈良先端科学技術大学院大学, 2015年.
受賞
[1] 中山 直輝, 吉田 則裕, 藤原 賢二, 飯田 元, 高田 光隆, 高田 広章, "最優秀論文賞," ソフトウェアエンジニアリングシンポジウム2015, 2015年.